表面粗糙度檢測儀

技術說明:
- 高精密測量
- 具有大量程的高解析度的探測頭
- 高直線度的推進單元
- 用來測量原始輪廓，粗糙度輪廓和波紋度輪廓的基準平面系統
- 35個不同的粗糙度參數
- 可用一個分析程式處理數據
- 探測器的測量裏0,75 mN
- 探針角度 60°
- 探針半徑2 μm技術說明:

- 高精密測量
- 具有大量程的高解析度的探測頭
- 高直線度的推進單元
- 用來測量原始輪廓，粗糙度輪廓和波紋度輪廓的基準平面系統
- 35個不同的粗糙度參數
- 可用一個分析程式處理數據
- 探測器的測量裏0,75 mN
- 探針角度 60°
- 探針半徑2 μm